硬度試験機 InSEM® HT

高温

InSEM HT高温ナノインデンテーション試験システムは、真空環境下でチップとサンプルを独立して加熱することができ、多くのSEM/FIBチャンバーまたはスタンドアロン真空チャンバーと互換性を持っています。最大800℃の温度範囲で、極端な温度条件をその場でシミュレートし、一貫した信頼性の高いテストデータを作成することができます。モリブデン製ホルダーの単結晶炭化タングステンチップは、高温試験用途に最適化されており、いくつかの形状が用意されています。 特徴 - 静電容量式変位測定用チップヒーター付きInForce 50アクチュエーターと、交換可能なチップによる電磁力測定用アクチュエーター - 10mmサンプルサイズと真空対応サンプルマウントシステムにより、最高800℃までのサンプル加熱が可能。 - 100kHzのデータ収集レートと20μsの時定数を持つInQuest高速コントローラーエレクトロニクス - XYZモーションシステムによるサンプルのターゲティング - SEMビデオキャプチャにより、SEM画像とテストデータを同期化 - ソフトウェアで統合された独自のチップキャリブレーションシステムにより、高速かつ正確なチップキャリブレーションを実現。 - Windows® 10に対応したInViewコントロールおよびデータレビューソフトウェアと、ユーザー設計の実験に対応したメソッドデベロッパを搭載 アプリケーション - 高温試験 - 硬度・弾性率測定（オリバー・ファル） - 連続的な硬さ測定 - 高速材料特性マップ - クリープ測定 - ひずみ速度感度 産業分野 - 大学、研究室、研究所 - 航空宇宙 - 自動車製造 - ハードコート - 原子力エネルギー - 軍事・防衛