X線回折計 D8 ADVANCE Plus粉末用
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特徴
- タイプ
- X線
- 応用
- 粉末用
詳細
D8アドバンスプラスは、最大の柔軟性と他に類を見ない使いやすさを兼ね備えており、環境下および非環境下でのエピタキシャルおよび多結晶薄膜、バルクおよび粉末サンプルの分析ニーズに完全にマッチしています。
TRIO光学系のおかげで、異なる装置形状の切り替えはボタンを押すだけで、ユーザーの介入なしに確実に行われます。
ブラッグ・ブレンタノ幾何学を用いた比類のない粉末回折
エピタキシャルサンプルの高強度で優れた分解能を実現
微小角入射法における最適多結晶薄膜回折の研究
XRRによる0.1nmから250nmまでの膜厚測定
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