1. 計量 - 研究所
  2. 実験機器
  3. 研究室用顕微鏡
  4. Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH

研究室用顕微鏡 Xradia 510 versa
X線3Dインサイチュ

研究室用顕微鏡
研究室用顕微鏡
研究室用顕微鏡
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
 

特徴

技術的応用
研究室用
タイプ
X線
観察技術
3D, インサイチュ
分解能

0.7 µm

詳細

ZEISS Xradia 510 Versa 飛躍的な柔軟性を備えた3Dサブミクロンイメージングシステム このX線顕微鏡は、3Dイメージングやin situ / 4D調査のための1ミクロンの解像度の壁を打ち破ることができます。 解像度とコントラスト、柔軟な作業距離の組み合わせにより、研究室での非破壊イメージングの能力を拡張することができます。 遠距離でサブミクロンの分解能(RaaD)を達成するために2段階の拡大技術を使用するそのアーキテクチャの利点。幾何学的な倍率への依存度を減らすことで、大きな作動距離でもサブミクロンの分解能を維持します。 ハイライト ソースからの大きな作業距離(ミリメートルからセンチメートルまで)でも汎用性を発揮します。 高度な吸収と革新的な位相コントラストにより、軟質または低Z材料の3Dイメージングを実行します。 プロジェクションベースのマイクロCTの限界を超えた柔軟な作業距離で世界最高レベルの解像度を実現 多様なサンプルサイズに対応するサブマイクロメートルスケールの特徴を解決 in situ / 4Dソリューションでラボの非破壊イメージングを拡張 ネイティブな環境にある物質を経時的に調査する 画質によるスループット

---

カタログ

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。