走査型電子顕微鏡 ZEISS EVO

研究所用素材分析用品質管理用

産業の品質、故障分析、または研究環境において、走査型電子顕微鏡（SEM）は、高分解能イメージングと高空間分解能元素化学の両方を提供できるので、金属組織および故障分析アプリケーションに最適なソリューションです。 ルーチンの検査および分析アプリケーション用に特別に設計されたEVOは、専用の簡略化されたグラフィカルユーザーインターフェースにより、専門家と非専門家の両方の電子顕微鏡による操作が可能です。 特に後続の検査の要件のために導電層でコーティングできない非導電性部品の場合、高品質のデータを提供します。 EVOは、対象地域の半自動再配置やデータ整合性ソリューションなどの機能によって、マルチモーダルのワークフローにシームレスに統合できます。システム、ラボ、さらにはロケーションを問わず、 SmartPIは、元素組成に基づく粒子の分類を可能にする、ZEISS自動化された標準準拠のSEM粒子分析ソリューションであり、産業用清浄度のターンキーソリューションとしてEVOに実装されています。 チャンバサイズ、真空システム、電子エミッタタイプ、分析オプションの幅広い選択肢により、EVOはあらゆる価格性能要件に密接に適合することができます。