マルチセンサー座標測定機 O-INSPECT

マルチセンサー座標測定機
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特徴

プローブ形
マルチセンサー

詳細

ZEISS O-INSPECT マルチセンサ測定機は、ISO-10360に準拠して各特性に最適な測定を可能にします。 利点: 広い視野と高精細な画像 迅速かつ正確な3D接触式測定 敏感な表面の光学式測定 短い時間で信頼性の高い測定を実現 大きな撮像視野 鮮明な画像 ZEISS Discovery.V12はZEISS Research Microscopy Solution(顕微鏡部門)の製品です。標準的なレンズと比較すると、4倍の撮像視野と、周辺部の歪みが非常に少ない画像を実現しています。その結果、測定時間の大幅な削減と高い精度を実現します。 最適なコントラスト ZEISS O-INSPECTの照明システム 精度の良い結果を得るためには、コントラストの差が必要となります。この目的のために、ZEISS O-INSPECTは多彩な照明システムを搭載しています。異なる形状、材質、ワークの色に応じて、照明を切り替えることにより、測定箇所のエッジがより鮮明に強調して映し出されます。

見本市

この販売者が参加する展示会

BIEMH 2024
BIEMH 2024

3-07 6月 2024 Bilbao (スペイン) ホール 6 - ブース C-10

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    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。