試験用ソフトウェア

制御貯蔵用EDM

機械システムの多くの特性は、周波数領域で対数的に記述する方が優れています。振動試験では、FFTが提供する一様な周波数分解能は理想的ではありません。なぜなら、高周波数領域では十分な分解能があっても、低周波数領域では十分でない場合があり、制御性能に影響が出るからです。 例えば、多くの一般的なランダム試験規格では、2kHzまでのプロファイルと低周波数帯域での高分解能が要求されます。この要求を満たすためには、高周波では不要な高分解能（大きなブロックサイズ）を使用しなければならない。そのため、高周波領域ではループ時間と記憶容量が増加し、スペクトラム・リフレッシュ・レートが低下する。 低周波領域での制御性能を高め、ループ時間を適切に保つためには、制御プロセス全体において、低周波領域と高周波領域で異なる解像度を適用する必要がある。 EDMは、高周波領域では選択した分解能を、低周波領域ではその8倍の分解能を適用するマルチ分解能機能を備えている。低周波領域と高周波領域を分割するカットオフ周波数は、ソフトウェアによって計算されます。システムの共振や反共振を避けるために、隣接するいくつかの周波数をユーザーが選択することもできる。 制御アルゴリズム 実装では、サンプリング・レートの異なる2つの異なる制御ループが使用される。制御システムのサンプリング・レートをFsとすると、全周波数範囲を（0, Fs/20）と（Fs/20, Fh）の2つの帯域に分けます。ΔFは周波数帯域(Fs/20, Fh)の分解能であり、ΔF/8を(0,Fs/20]の分解能として使用する。