X-Scan MEは、過酷な産業環境向けに設計された既製のフォトンカウンティングラインカメラとクリティカルディテクタアクセサリの完全な製品ファミリーです。このシリーズは、リサイクル、食品加工、鉱業、その他のプロセス産業における選別、グレーディング、品質検査、材料分析、複雑な製造プロセスの最適化に最適なソリューションです。X-Scan MEは、従来のデュアルエネルギー構成を超える材料識別能力を必要としながらも、堅牢性、システム統合の容易さ、サービス性を追求し、より高いスキャン性能とエンドユーザー体験を求める高度なアプリケーションに最適です。
X-Scan MEは、精密なセンサーギャップとアライメント制御、VHF(超高フラックス)構成を搭載しています。このシリーズは、前世代のボードに比べて2倍のフォトンカウンティング能力を持つ独自のX-Card ME3 XC検出器ボードを搭載しています。マルチエネルギーモードに加えて、X-Scan MEは20~160keVの有効エネルギー範囲を持ち、設定可能なフォトンカウンティングモードにより、強力なマルチエネルギー技術の利点を多目的スキャンニーズに容易に活用することができます。
このシリーズは、容易に拡張可能なモジュール式プラットフォーム上に構築されています。堅牢でIP67クラスのハウジングと信頼性の高い機械的・電気的インターフェースを特徴としています。内蔵の液冷回路により、汚染物質に強く、信頼性の高い検出器の熱管理が可能です。X-Scan MEには、アプリケーションに適合した堅牢な制御ユニットX-IM ME3-Hが付属しています。
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