CIRCOGRAPH DIはCIRCOGRAPH CIと同様の基本機能を持ちながら、コントロールコンピュータを内蔵していないため、CIRCOGRAPH CIと同等の検査品質を確保することができます。オプションとして、CIRCOGRAPH DIにアーカイブ機能などを追加することも可能です。
操作、管理、アーカイブは外部に接続されたコントロールコンピュータを介して行われます。このシステムは、半製品の材料表面の長手方向の欠陥の精密な検査を保証します。さまざまなセンサーシステムにより、検査タスクに最適な適応が可能です。CIRCOGRAPH DIはコンパクトな設計のため、ほとんどの生産ラインに組み込むことが可能です。
一目でわかるメリット
コンパクトな設計により、生産工程に簡単に組み込むことができます。
外部操作による簡単なオペレーション
汎用性の高い試験システムで、個々のアプリケーションや要件に適合させることが可能
2チャンネル試験システム
シームレスで連続的な試験
欠陥の深さ分解能は30 μmから
直感的な操作が可能なソフトウェア
---