光学式検査装置 C12965
表面用欠陥検出穴検出

光学式検査装置
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特徴

技術
光学式
タイプ
表面用, 欠陥検出, 穴検出

詳細

キセノンフラッシュランプと組み合わせることで、Φ1 µm以下のピンホール検出を可能としたピンホール検査ユニットです。缶蓋の検査では最速600個/minの高速検査を実現します。 また、小型部品の検査にも応用可能です。 特長 • 高速かつ高精度なピンホール検出: 1µm以下の極小ピンホールに対応 • 最大検出速度:600個/min • 非接触検査 • しきい値(任意)に対するピンホール判定機能 仕様 • 入力電圧(DC) : 24 : V • 最大消費電流① : 0.5 : A • 検出ユニット : 検出器 : 光電子増倍管 : - • 検出部入射径 : φ46 : mm • 動作温度範囲 : +10 ~ +40 : ℃ • 保存温度範囲 : -20 ~ +50 : ℃ • 動作/保存湿度範囲 : 35 ~ 85(結露なきこと) : %RH • 適合規格 : IEC61326-1:Group 1 Class A • IEC61010-1 :

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見本市

この販売者が参加する展示会

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 6月 2024 Frankfurt am Main (ドイツ) ホール 11.1 - ブース F62

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    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。