皮膜厚分析器 FT160 Series

合金卓上型蛍光X線

ナノスケールのコーティングを高速・高精度に分析することが可能 ベンチトップ型蛍光X線分析装置FT160は、今日のPCB、半導体、マイクロコネクタに見られる微小な特徴を測定するために設計されています。微小な形状を正確かつ迅速に測定することにより、生産性を向上させ、コストのかかる再加工や部品の不良品を回避することができます。 FT160のポリキャピラリー光学系は、50μm以下のフィーチャーのnmスケールコーティングを測定でき、高度な検出器技術により、短い測定時間を維持しながら高い精度を得ることができます。また、大型の試料台、大きく開くドア、高解像度の試料カメラ、充実した観察窓など、さまざまなサイズの試料を簡単にセットでき、大きな基板上の関心領域を探し出すことができます。使いやすく、QA/QCプロセスにシームレスに統合できるため、問題が深刻化する前に警告を発します。 マイクロスポットや極薄コーティングの分析用に設計されたFT160の光学系と検出器テクノロジーは、最小限の特徴に最適化されています。 安全な距離から分析結果を見ることができる大きな観察窓 測定方法は、ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987の規格に準拠 IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554、IPC-4556に準拠した試験仕上がり 迅速なサンプルセットアップのための自動化されたフィーチャーロケーション アプリケーションに最適化されたアナライザー構成が選択可能 50 µm以下のフィーチャーに施されたnmスケールのコーティングを測定 従来の2倍の分析スループット さまざまな形状の大型試料に対応 長期間の生産ラインでの使用を想定した堅牢な設計