X 線検査機 / 高解像度 / 3D
phoenix nanome|x

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X 線検査機 X 線検査機 - phoenix nanome|x
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特徴

  • 技術:

    X 線

  • その他の特徴:

    高解像度, 3D

詳細

フェニックスナノーム | xは、半導体およびSMT 産業における高品質のアセンブリおよび相互接続を検査するために設計された超高解像度の180kVナノフォーカスX 線検査システムです。 このシステムは優れた性能と汎用性を提供し、2 次元 X 線検査のほか、フル3Dコンピュータ断層撮影(マイクロおよびナノCTおよびプラナーCT)にも必要に応じて使用できます。 phoenix x | act ソフトウェアパッケージでは、フェニックスナノーム | x は、実際および将来のゼロ欠陥要件を確実に満たすための選択システムです。

お客様のメリット
2D/3D CT 操作を組み合わせた
優れたデュアル検出器技術(デジタル画像チェーンと30fpsのアクティブ温度安定化デジタル検出器)鮮明なライブ画像を実現
する検査手順の自動化による高い生産性と再現性を
抜群の使いやすさ


主な特長
phoenix x | CADベースの高解像度の自動 X 線検査(μAXI)により、高い倍率と再現性を備えた非常に高い欠陥カバレッジを実現する
180kV / 15Wのハイパワーオープンナノフォーカスチューブ、200ナノメートルの最高の詳細検出性を備えたACT ソフトウェアパッケージ 30 fps (フレーム/秒) とアクティブ冷却を備えた高ダイナミック温度安定化デジタルGE DXR 検出器による鮮明なライブ検査画像
nanoCT® および / またはplanarCT 機能を備えたオプション
3D コンピュータ断層撮影スキャン
を10 秒以内で最大 2 倍高速データ取得 ダイヤモンドによる画質レベル | 窓

これは自動翻訳です  (英語の原文を読む)

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