概要: CellaCrystal PA 44 は結晶成長時の温度測定用に開発された光学式二色(比率)放射温度計です。校正は結晶生産向けに調整されています。ハイブリッド信号評価により測定範囲全体で常に 0.1 K 未満の高分解能を実現し、センサー構造により非常に高い長期安定性が得られます。視野内照準、レーザーパイロットライト、または内蔵ビデオカメラにより測定点への正確なアライメントが可能です。
主な特長:
測定範囲 750~3,000 °C
シリコン結晶生産向け(PA 44 AF 4 / AF 5)およびシリコンカーバイド向け(PA 44 AF 7)の校正バリエーション