概要Specim SX25 は、研究、実験室、産業環境での材料解析向けに設計された短波長赤外(SWIR)ハイパースペクトルカメラです。960–2500 nm の波長帯をカバーし、空間ピクセル数640、最大392の選択可能な波長バンド(分光分解能8 nm)、信号対雑音比1500:1 を備え、近接したスペクトル特徴を高い分光忠実度と一貫したデータ品質で取得できます。
特長- スペクトル範囲 960–2500 nm — 材料同定のための SWIR カバー
- 最大392の選択可能な波長バンド — 適応可能な波長サンプリング
- 分光分解能 8 nm — 詳細なスペクトル識別
- 空間ピクセル 640 — 高い空間サンプリングによるイメージング
- 信号対雑音比 1500:1 — 微細な特徴の検出性向上
- GigE Vision インターフェース — データ転送とシステム統合の標準化
- 高品質で柔軟な光学系 — レンズオプションと広視野からマクロまでの可変作業距離
- 組み込み画像強調処理 — 後処理の低減
- 統一スペクトル校正 — 装置間で一貫した比較可能なデータ
用途コーティング層検査、鉱物および鉱石の分類、食品品質検査・異物検出、農業・製薬の研究、文化遺産の解析など、空間精度と分光詳細が求められる材料特性評価に適しています。
仕様 / 技術データ- スペクトル範囲: 960–2500 nm
- 空間ピクセル: 640
- 波長バンド: 最大392の選択可能バンド
- 分光分解能: 8 nm
- 信号対雑音比: 1500:1
- インターフェース: GigE Vision
- 光学系: 柔軟な高品質レンズオプション;作業距離可変(広視野〜マクロ)
- 画像処理: 後処理を削減する組み込み高度画像強調
- 校正: 装置間で一貫したデータを得るための統一スペクトル校正