多機能テスター
KEW 6010B
• 継続:
20/200Ω
200mAテスト流れ
• 絶縁材:
500/1000V、20/200MΩ
1mAはテスト流れを評価した
• ループインピーダンス:
20/2000Ω
2000Ω (RCD旅行無し)の15mAテスト流れ
• RCD:
10/30/100/300/500mA
x1/2、x1の速い旅行(40ms)、DCの自動傾斜路
• 大きい一種のRCDのテスト:
標準的で、選択的、AC、A
(DCの敏感なブレーカ)
• Uc (接触の電圧): 100V
• IEC 61010-1に設計されている、IEC 61557
• データ記憶: 300は結果を測定した
• 記憶データは光学アダプターモデル8212USBか8212-RS232CによってPCに移すことができる。
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