測定用プローブ Probe Z-Nano
自動堅牢

測定用プローブ - Probe Z-Nano - LANG - 自動 / 堅牢
測定用プローブ - Probe Z-Nano - LANG - 自動 / 堅牢
測定用プローブ - Probe Z-Nano - LANG - 自動 / 堅牢 - 画像 - 2
測定用プローブ - Probe Z-Nano - LANG - 自動 / 堅牢 - 画像 - 3
お気に入りに追加する
商品比較に追加する

特徴

分野
測定用, 自動
その他の特徴
堅牢

詳細

工具計測プローブZ-Nanoは、マシニングセンターでの高速・高精度な自動工具長計測と工具折損検出を可能にするケーブル接続型計測システムです。頑丈な機械設計と、内蔵されたライトバリアを介した光電子信号の生成により、過酷な条件下でも高い信頼性を保証します。

---

カタログ

この商品のカタログはありません。

LANGの全カタログを見る

見本市

この販売者が参加する展示会

SPS 2026
SPS 2026

24-26 11月 2026 Nuremberg (ドイツ) ホール 1 - ブース 570

  • さらに詳しく情報を見る
    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。