概要Empyrean XASは、ラボベースのX線吸収分光(XANESおよびEXAFS)をEmpyreanの多目的X線プラットフォームに統合し、1台の装置で回折、散乱、イメージング、分光を組み合わせた一貫性のある構造・化学解析を可能にします。
主な機能- 長距離の結晶構造(回折)とナノスケールの組織(散乱)、構造イメージングを組み合わせ
- 元素特異的な局所化学情報をXANES/EXAFSで取得
- 大幅な再構成を伴わずに複数の吸収端を連続測定
XASによる局所化学情報XASは元素の吸収端付近の吸収を測定することで、特定元素の局所化学環境を探る手法です。XANESは吸収端近傍の酸化状態や電子構造に敏感であり、EXAFSは高エネルギー領域で短距離構造の定量的情報を提供します。
- 酸化状態の同定
- 配位幾何の決定
- 原子間距離の測定
- 短距離秩序の解析
定量性能Empyrean XASは定性的および定量的解析に適した再現性のあるスペクトルデータを生成します。高いエネルギー分解能はXANESの微細構造(プレエッジ等)の解析を可能にし、広いkレンジはEXAFSの定量的フィッティングに適しています。測定は透過法で行われ、堅牢な定量解釈を支援します。
元素・エネルギー対応対応する吸収端には中程度の原子番号の遷移金属のK吸収端(例:Ti、Fe、Ni、Mo)や重元素のL吸収端(例:Ba、Ce)が含まれます。利用可能エネルギー範囲:約4~20+ keV。複数吸収端を1回の実験で連続測定できます。
複合材料向けのマルチエッジ機能複数の吸収端を順次測定することで、装置の再構成を繰り返すことなく多成分触媒や電池電極、機能性酸化物、多元素合金の解析を効率化できます。
Empyreanプラットフォームへの統合Empyrean XASはモジュラーなEmpyreanプラットフォームと統合されます。PreFIXコンセプトにより、測定構成(回折、散乱、イメージング、分光)の迅速かつ再現性の高い切替が可能で、複数手法を単一ワークフローで連携できます。
ソフトウェアとワークフロー機能統合ソフトウェアがセットアップから解析までを支援します。主な機能:
- 自動データ収集
- スキャンのアライメントと正規化
- 検出器補正とバックグラウンド除去
- 吸収端前後領域のフィッティング
- スペクトル処理とデータキュレーション
用途代表的な用途:
- エネルギー貯蔵 — 電池材料の酸化状態変化や局所構造の変化追跡
- 触媒 — 活性部位、酸化状態、反応経路の評価
- 先端材料 — 短距離秩序、欠陥、電子構造の解析
- 環境・地質科学 — 微量元素や化学的変換の分析
ドキュメント入手可能な資料:
- Empyrean Series 3 Pre‑Installation manual — Version 3, 14 Feb 2023 (English)
- Empyrean Series 3 User Guide — Version 3, 03 May 2022 (English)
仕様(技術的ハイライト)- Techniques: XANES、EXAFS
- Energy range: 4–20+ keV
- Measurement mode: 透過(transmission)
- Energy resolution: 8 keVで低至 1.3 eV
- Resolving power: 最大 E/ΔE ≈ 6150
- Accessible edges: 3d遷移金属のK吸収端および重元素のL吸収端
- Environment: 大気中動作
- Operando studies: 対応
- 測定時間: 数分〜数時間