原子間力顕微鏡 LensAFM
分析用測定表面粗さ測定用

原子間力顕微鏡
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原子間力顕微鏡
原子間力顕微鏡
原子間力顕微鏡
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特徴

タイプ
原子間力
応用
分析用, 測定, 表面粗さ測定用, 検査用, 表面検査用
エルゴノミクス
正立型
観察技術
3D
構成
コンパクト
その他の特徴
高解像度, 長距離作業式, 簡易設置, 地形測量用, 研磨サンプル用, 顕微鏡およびプロフィロメーター統合用
分解能

最少: 14 µm

最大: 110 µm

詳細

光学顕微鏡の分解能を拡張 Nanosurf LensAFMは、光学顕微鏡と顕微鏡が分解能の限界に達する場所を続ける原子間力顕微鏡です。 これは通常の対物レンズのように取り付けられており、これらの機器の分解能と測定能力を拡張します。 LensAFMは、3 次元地形情報を提供するだけでなく、測定サンプルの様々な物理特性の解析にも使用できます。 使用する 機器を使用してAFM 測定を実行する 状況が増え続ける中で、研究者は光学式と原子間力顕微鏡法を組み合わせたいと考えています。 光学顕微鏡の使いやすさ、スクリーニング能力、サンプル調製要件(不足)はほとんど比類なきません。 しかし、100 倍の目標では不十分な場合があり、楽器の解像度を超える小さな機能を詳しく見たいと思います。 通常のラボ環境では、2つの専用の装置が必要であり、サンプルを一方のデバイスから他方のデバイスへ転送する必要があります。 LensAFMでは、これは当てはまりません。 非常に小さな設計と巧妙な取り付け機構で、光学顕微鏡またはプロファイロメータでタレットを回転させ、スキャンを実行するだけです。

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カタログ

Nanosurf LensAFM
Nanosurf LensAFM
2 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。