ウェハー用計量システム QS2200™

半導体用

非破壊ウェハ解析 製品概要 QS2200システムは、非破壊ウェハ解析用に特別に設計されたFTIR測定ツールです。 半導体材料の特性評価と測定、デバイス製造に使用されます。