デジタル入出カード PE32D

PXIデジタル出力32デジタル入力32

PE32Dは、PXIベースのデジタル測定器の性能と機能の新しいレベルを象徴しています。 PE32Dは、PE32の実績あるアーキテクチャをベースに、高性能なピンエレクトロニクスと強化されたタイミングジェネレータをコンパクトな3UのPXIフォームファクタで提供します。各カードは、32chデジタルサブシステムまたは2つの16chサイトテスターとして機能します。また、PE32Dは 最大33MHzのテスト速度で、ピンごとのダイナミックな方向制御が可能な32Mのオンボードベクトルメモリを提供し、深いパターンメモリをサポートします。 PE32Tは、1チャネルあたり-1～+7 VOH VIH VILをサポートし、1ボードあたり4 PMUを提供します。PE32D は、16 個のタイミングセット、2 個のドライバ TG エッジ、1 個のストロボ TG エッジを提供します。2つのフォーマットセット、オンザフライでの変更、4つのドライブデータフォーマットをサポートします。RTZ (Return To Zero), RTO（Return To One）、NRZ（Non Return To Zero）、SBC（Surround By Complement）の4種類の駆動データフォーマットに対応しており、基板やボックスレベルの製品テストにおいて、様々なバスサイクルや波形を柔軟に生成することが可能です。100MHz 32bit TMUを2個搭載し、周波数と時間の測定が可能。 周波数と時間の測定が可能です。 オンボードメモリ 1チャンネルあたり32Mのベクタメモリを搭載しています。プログラム可能なパターンサイクル時間は最大232または無限大です。0、1、L、H、X、Z、J、Qを含むパターンシンボルがあります。 互換性 すべてのOpenATE InterfacesのPXIカードは、PXI仕様2.0（2000年8月発行）に準拠しています。 ソフトウェア PE32Dは、APIとパターンエディタが付属しています。 パターンエディタは、テストパターンを編集するためのソフトウェアツールです。 アプリケーション - 自動テスト装置(ATE) - 民生用デジタル機能テスト - デジタルパターン作成 - パワー・マネージメント・デバイス・テスト - ハイブリッド・デジタルICテスト