金属表面用カメラ PI 1M

プロセス監視用製造用アナログ

金属は1マイクロメートルの短波長測定で高い放射率を発生するので、新開発の熱探知カメラのオプトリスPI 1Mは従来の8〜14マイクロメートル波長での測定よりも金属の温度測定に適しています。 熱探知プロセスの可視化と並行して、高パフォーマンスの感知エレクトロニクスにより、中心ピクセルの温度情報を1ミリ秒の短時間で表示します。