精密光学テーブル 203470
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特徴
- 特性
- 精密
詳細
高精度の変位測定に使用されるキャリア。
高精度の変位測定に使用されるサーベイヤー。
レールとボール上の新しいマイクロメトリックプレートの利点：最小限の遊び、スムーズな操作、測定の信頼性。
- ベースプレート50 mm - 測定範囲: 25 mm - 動き: マイクロメトリック横方向 - 測定精度: 1/100 mm - カラム高さ: 60 mm - 受入ステム：Ø10 mm
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