走査プローブ顕微鏡 VS-SKP

研究所用卓上

ケルビンの調査の実験は調査とサンプルの相対的な仕事関数の違いを定めるのに非破壊的な方法を使用する。仕事関数はコンダクターの表面からの電子を解放するために必要なエネルギーを記述する;electrochemistsは頻繁に電極の電子のフェルミ レベル、平均エネルギー、および真空のそれからの相違としてこれを解釈する。 金属のmicroprobeはサンプルの表面の近くで置かれる（100ミクロンの発注で）。microprobeおよびサンプルが異なった金属なら、電子間にエネルギー相違がある。microprobeはシステムの内部電子工学によるサンプルにそれから電気で、ショートする。結果として、1つの金属の形態表面の正電荷および他の金属は表面の負電荷を形作る。調査およびサンプルは誘電性で（空気）、そうコンデンサー形作られる分かれている。調査はそれから振動し、「裏付け潜在性」のか「無効にする潜在性」はそれからこのキャパシタンスを最小にして適用された十分である。キャパシタンスがゼロに行く応用電圧で元の州は達成される。この価値は記録され、図表になる。 実験は包囲された気体条件で普通行われるが、複数の出版された例は湿らせられた環境を使用する。根本的な行なうサンプルは有機性コーティングがあるか、または適用されて塗ることができる。