KUB®は設置が非常に簡単なだけでなく、取り外しや再設置も問題なくできます。設計構造により、運転圧力比が最大98 %*と高いだけでなく、設置前や設置中の取扱いミスにも頑丈で壊れません。それに役立つのが付属のIGホルダー(33ページ)です。ラプチャーディスクとホルダーは、ディスクの挿入を間違えないように設計されています。パッキンタイプのシールを使用せず、メタルを重ねたシールで漏れを完全になくしているので、保守検査の後でも簡単に再取り付け可能です。
* それぞれのアプリケーションによって異なります
KUB®のすべてのバージョンが、破裂信号機能内蔵でもお求めになれます。
運用者にとっては:
• 特殊な工具を必要とせず、締め付けトルクに関係なく、簡単に素早くラプチャーディスクの設置が可能。
• ラプチャーディスクが早期に破裂開口してしまったり、損傷するリスクがありません。
• ラプチャーディスクの寿命が長くなることで、スペアのディスク、ダウンタイム、メンテナンスのコストを低減します。
KUB®の設定破壊点、座屈ピンは、オイラーの式に基づいて開発されています。座屈ピンの幾何学的形状と配置、ラプチャーディスクに選択した材料によって、KUB®の破裂圧力が定まります。しかもラプチャーディスクは耐久性に優れているので、ディスクのドーム面に触れたり、腰の高さから誤って落としたりしても、機能に影響を受けません。
KUB®は、液体、気体または蒸気の用途や二相流の用途など、低圧から高圧、ならびに真空の様々な種類の高度な工業プロセスに理想的なソリューションです。幅広い範囲の圧力をカバーしているので、多くのプロセスでたった1種類のラプチャーディスクを装備するだけで済むのが大きなメリット:1つのホルダーシステムだけが必要です。プロセス条件が変わった場合(例えば運転圧の変化)、ラプチャーディスクを交換しますが、ホルダーはそのまま使い続けることができます。お金の節約になります!
設計
KUB®は2層構造で、滑らかで閉じた表面のシーリング膜がプロセス側です。破裂圧力を規定する座屈ピン要素はプロセスの逆側です。これにより、プロセス媒体との接触を防止し、特に腐食性媒体の場合は、ラプチャーディスクが確実に機能し、早期に反応するのを防ぎ、KUB®の寿命が伸びます。
シーリング膜が漏れを完全になくすので、プロセス媒体の損失や汚染を防止します。
ご使用のメリット
• 非常に頑丈な設計により、長い耐用年数 – ダウンタイムが短くなります。
• 高い運転圧力比でもラプチャーディスクの金属疲労がありません。
• 広い範囲の圧力、口径で使用可能、液体用途にも理想的。
• 信頼性の高いホルダシステムにより、ラプチャーディスクの誤方向設置が不可能。特殊な工具は不要です。
• メタルを重ねたシールによりガスが漏れ出るのを防止し、排出量を減らして、環境を保護します。
• 損傷することなく、簡単に取付可能:フランジ接続に必要な締め付けトルクが、使用しているラプチャーディスクとは関係ありません。