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- HASTテストチャンバー
- AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd
HASTテストチャンバー HAST series熟成電子回路基板用電気装置
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特徴
- 試験の種類
- HAST, 熟成
- 製品応用
- 電子回路基板用, 電気装置, 自動車用
- 構成
- キャスター付き
- オプションとアクセサリー
- 2 ゾーン
- その他の特徴
- 加速
- 温度
最少: 100 °C
(212 °F)最大: 135 °C
(275 °F)
詳細
Doubeテストゾーン HAST加速老化テストチャンバー
アプリケーション
Doube Test Zone HAST Accelerated Aging Test Chamberは、多層回路基板、IC封止パッケージ、LCDスクリーン、LED、半導体、磁性材料、NdFeB、希土類、磁石鉄などの封止特性の試験に広く応用されており、上記の製品の耐圧性や気密性を試験することができます。
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