画像を分光スペクトル解析。
高解像度(500万)で高輝度分光測定(170憶cd/m2)が1nm毎におこなえます!
SR-5100シリーズは分光、XYZモードを搭載!
製品概要
SR-5100は、従来の点測定の分光放射計と同等の性能を有した2D分光放射計です。
機器の校正には光のトレーサビリティのとれた光源を使用し、高精度な輝度・色度の精度保証を実現しました。
非破壊・非接触で光源の波長特性や材料の分光透過率特性、物体の分光反射率特性など光源や物体の特性を500万で170億cd/m2を1nm毎に分光特性評価をおこなうことができ、多岐にわたる製品の品質を高く維持することに貢献する光計測機です。
2D分光放射計SR-5100は物体が持つ固有のスペクトルを分析することで、人間の目やフィルタ式の二次元輝度計では評価困難な特性や発光製品のみならず、物体の反射光評価やシミュレーション評価に活用できます。
開発スピードが加速しているマイクロ/ミニLEDディスプレイや部材関係、物質の質感、スキンケア、繊維染織物、景観など幅広い業種・用途にてご使用頂けます。
特長
■ 高解像度500万画素(2448×2048)で高輝度分光測定(170億cd/m2)が可能です。
■ 非破壊・非接触で光源の波長特性や材料の分光透過率特性、物体の分光反射率特性など光源や物体の特性を高精度に500万ポイントの分光評価がおこなえます。
■ スポットタイプの分光放射計と同等の性能を有した2D分光放射計です。
■ 光のトレーサビリティのとれた光源を使用した校正により高精度な輝度・色度の精度保証を実現しました。
■ 分光とXYZフィルタの測定方式を搭載した各々の長所を生かした高精度と高速のコンバーチブルモデルです。
■ ソフトウェアを標準で付属しております。