説明3200C Series は、ループ(Loop)、RCD、PAT、絶縁試験器の校正に対応する、迅速で安全かつ高精度な電気試験用キャリブレータです。ラボおよびオンサイトでの校正ワークフローの短縮を目的に設計されています。
主な利点- Loop、RCD、PAT、絶縁試験器の校正における最速かつ安全なソリューション
- 校正サイクルを通常15分未満に短縮
- フロントパネルの専用電源ソケットによりLoopおよびRCDテスターを直接接続可能
- 電気工用テスト機器の校正におけるTest Uncertainty Ratio (TUR) は4:1
- 短いウォームアップ時間により携帯性と迅速な展開が可能
- フィールド校正向けのポータブルバリアントを用意
概要複数の試験機能を1台に集約することで、3200C は多くの機器を必要とする従来法に比べて校正時間を短縮し、有害電圧への露出を低減します。フロントのローカライズされた電源ソケットにより、標準の電源プラグで多くのLoopおよびRCDテストが行え、安全性と接続の簡素化に寄与します。現代の高精度な試験機器の校正に適したレンジと精度を提供します。
製品ファミリとバリアント- 3200C — ベンチトップキャリブレータ
- 9200C — 同等の性能を持ち、携帯性を重視したポータブルバリアント
用途Loopテスター、RCDテスター、PAT(可搬機器試験器)および絶縁試験器など、電気工の試験機器の校正向けに設計されています。高電圧、PATのFLASH機能、拡張絶縁レンジ用のオプションアダプタをサポートします。
技術仕様- 導通抵抗標準精度: 0.2 Ω – 1 kΩ, 1% (0.25% オプション)
- 導通電流: 0 – 320 mA, 1.3% (最良1年精度)
- 絶縁抵抗: 0 Ω – 2 GΩ (2 GΩ – 10 GΩ および 100 GΩ オプション), 0.3% (0.1% オプション)
- 交流電圧出力: 100 V – 400 V, 0.2% (最良1年精度)
- ループ抵抗 / ループ試験電流: 3 mA – 3 A, 1.2% (最良1年精度)
- PAT 接地抵抗: 0.05 Ω – 1 kΩ, 0.5% (最良1年精度)
- PAT 接地電流測定: 100 mA – 30 A, 1.5% (最良1年精度)
- PAT 絶縁抵抗: 0 Ω – 2 GΩ, 0.3% (0.1% オプション)
- PAT 漏れ電流: 2 mA – 7.7 mA, 1.5% (最良1年精度)
- PAT 漏れ試験電圧: 100 V – 300 V, 1.5% (最良1年精度)
- 電気工の試験機器を校正する際の Test Uncertainty Ratio (TUR): 4:1
- LoopおよびRCDテスターの直接接続用にフロントパネルに専用電源ソケットを搭載
- 短いウォームアップ時間;3200B/9200Bは20分未満で動作可能
- 校正ワークフロー時間短縮を目的に設計:校正サイクルは典型的に15分未満
- 利用可能なオプション・アクセサリ:高電圧/拡張HVアダプタ、PAT FLASH機能用FLASHアダプタ、HiPot/breakdown用Breakdownアダプタ等