屈折率検出器 PCI-4TE-9

光学式半導体式動的

1.0 - 10.2 µm、4段熱電子冷却、光学的に浸漬 PCI-4TE-9は、最高の性能と安定性を実現するために、光学的にデバイスのパラメータを改善するために光学的に浸漬された洗練されたHgCdTeヘテロ構造をベースにした4段の熱電子冷却型IR光導電検出器です。検出器は、λopt = 9.0 μmで最大の性能を発揮するように最適化されている。カットオン波長は、GaAsの透過率（〜0.9μm）によって制限されています。デバイスは最適なバイアス電圧と電流読み出しモードで動作する必要があります。低周波での性能は1/fノイズにより低下します。3°ウェッジ付きセレン化亜鉛反射防止コーティング(wZnSeAR)ウィンドウにより、不要な干渉効果を防ぎます。 特徴 - 1.0～10.2 µmのスペクトル領域で高い性能を発揮 - 4段式熱電冷却 - 超半透明マイクロレンズ技術の応用 - 長寿命とMTBF - 安定性と信頼性 - 1/fノイズ パラメータ PCI-4TE-9 材質. MCT タイプ。 光導性 没頭。 イマージョン 冷却。 4段階 波長/λopt/μm: 9 パッケージ TO8、TO66 窓：くさび型ZnSe ARコーティング 検出率/ D∗/ cm⋅Hz1/2⋅W-1: ≥1,0x1010 時定数のτ/ ns: ≤80