赤外線顕微鏡レンズ Infra-SW series

マシンビジョン検出用検査用

短波赤外線（SWIR）波長帯域は、可視およびその他の熱帯域に比べて独自のイメージングの利点を提供します。 電子ボード検査、材料/食品選別、太陽電池検査、品質検査、および軍事用途向けの産業用マシンビジョンで静かに成長している場所です。 SWIRレンズは、他の検出器やカメラが有限の詳細認識に十分な感度を備えていない場合に使用されます。 短波赤外線 (SWIR) 光は、通常 0.9μm から 2.5μm (900nm から 2500nm) の波長範囲の電磁スペクトルの XNUMX 秒であるため、人間の目には見えません。 ただし、SWIR 光は、光子がオブジェクト自体によって反射されるという点で、可視波長と同様の方法でオブジェクトと相互作用します。 この反射性の結果として、SWIR 光は生成する画像にコントラストと影を持ち、これは高解像度の画像処理に必要な要件です。 SWIR は、中波赤外線 (MWIR) や長波赤外線 (LWIR) 光とは異なり、対象物から熱 IR (熱) として放出されるため、解像度が低く、詳細な画像が表示されません。 SWIR 波長は、インジウム ガリウム ヒ素 (InGaAs) などのセンサーでのみ見ることができます。 InGaAs カメラ センサーからの画像は、詳細と解像度が可視光画像に匹敵しますが、カラーではありません。 これは、オブジェクトをより簡単に認識して個別に識別できるため、SWIR の多くの利点の XNUMX つです。