振動試料型磁力計 DXV-8000 VSM

磁化曲線脱磁曲線ヒステリシスループ

概要

DXV-8000 VSM（振動試料磁力計）は、薄膜、液体、粉末、塊状など多様な試料形態の磁気特性を測定するための実験室用計測器です。多層膜や低磁気モーメント材料に最適化されており、磁場および温度のモジュールを構成して使用できます。

測定可能な試料と出力測定値

• 測定可能な試料：天然磁性材料、粒状合金、磁性半導体、磁性膜、サーモマグネティック材料など。
• 測定出力：磁化曲線、ヒステリシス曲線（M-H）、磁気モーメントの時間/温度/角度依存、キュリー温度、超伝導転移温度（低温オプション時）、FORC（first-order reversal curve）測定。

主な機能

• ヒステリシスループ（M-H）測定：強制力（coercive force）、残留磁化、飽和磁気モーメントの取得。
• 温度依存磁気モーメント（M-T）測定：超伝導転移（低温オプション）やキュリー温度（高温オプション）を含む。
• FORC測定に対応。
• 試料回転：角度依存測定のための連続360°電動回転。
• 高精度レーザー変位センサー：最小分解能1 µm、1 µmの振幅変化を検出可能。
• 高い振幅安定性と自動高精度試料センタリングによる良好な再現性。
• 高速データ収集：磁気モーメント、磁場、温度を10 ms間隔で連続収集可能。
• ベクトル磁気モーメント測定（オプション）に対応し、ベクトル成分や異方性材料の評価が可能。
• モジュールオプション：各種磁場および可変温度オプション（電磁石、クライオスタット、高温炉、統合サーモスタット、ベクトルコイル）により測定レンジを拡張可能。
• ソフトウェア：LabVIEWベースで実装され、操作性とスクリプトによるカスタマイズが容易。

追加システムオプションおよび付属品

• ベクトルコイルオプション：異方性磁性材料向けにXおよびYの同時ベクトル測定が可能。低温・高温測定に対応。
• 試料ロッド標準：薄膜、液体、粉末、塊状試料用に設計された複数の専用試料ロッドをサポート。
• その他付属品（例）：温度コントローラ（サーモスタット）、機械ポンプ（粗真空）、分子ポンプ（高真空）、液体窒素タンク（給液管付）、冷却用給液管、ウォーターチラー（磁石・機器冷却用）、高温試料ロッド、使い捨て試料容器など。

仕様／技術仕様

• 磁気モーメント — 測定範囲: 34×10^-9 emu ~ 10^3 emu
• 磁気モーメント — 安定性: ±0.05% / 日
• 磁気モーメント — 再現性: ±0.5%
• 磁気モーメント — 精度: ±1%
• 磁気モーメント — 感度: 1×10^-7 emu
• 磁気モーメント — ノイズ (10 s/pt RMS): 30 nemu
• 磁気モーメント — ノイズ (10 s/pt P-P): 80 nemu
• 試料質量: 0 g – 10 g
• 振幅: 5 mm – 10 mm
• 振動周波数: 55 – 85 Hz
• 測定ノイズフロア（典型）: 10^-8 emuレベル（例：10 s/pointで3×10^-8 emuのノイズフロア；10 s収集間隔で23.9 nemu RMS測定）
• 電磁石オプション: Dexinmagプッシュプル電磁石、6つの固定ポールギャップ（7.5 mm, 12 mm, 20 mm, 25 mm, 28 mm, 50 mm） — 型式 DXWDS-130、DXWDS-225。
• 磁石性能（室温）: DXWDS-130 → 2.8 T；DXWDS-225 → 3.2 T
• 磁石性能（低温オプション）: DXWDS-130 → 2.1 T；DXWDS-225 → 2.4 T
• 磁石性能（高温オプション）: DXWDS-130 → 1.7 T；DXWDS-225 → 2.4 T
• 磁石性能（高低温測定）: DXWDS-130 → 2.1 T；DXWDS-225 → 2.6 T
• 磁石精度: 1%
• 磁石分解能: 1 mOe
• 磁石安定性: 100 mOe
• 磁場変化率: 最大 10,000 Oe/s
• VSMクライオスタット（オプション）: 液体ヘリウム最低温度 4.2 K；液体窒素最低温度 77.6 K；温度制御精度 0.1 K；分解能 0.001 K；ノイズ 約60 nemu；試料空間 7 mm
• VSM高温炉: 温度範囲 常温 – 1273 K；温度制御精度 0.5 K；分解能 0.001 K；ノイズ 約100 nemu；試料空間 7 mm
• VSM統合高低温サーモスタット: 温度範囲 100 K – 950 K；温度制御精度 0.5 K；分解能 0.001 K；ノイズ 60–100 nemu；試料空間 7 mm
• データ取得タイミング: 連続収集間隔 10 msまで
• 試料回転: モーターにより360°連続
• レーザー変位センサー分解能: 1 µm（最小）