走査電子顕微鏡 ZEISS SIGMA
分析用デジタル カメラ

走査電子顕微鏡
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特徴

タイプ
走査電子
応用
分析用
その他の特徴
デジタル カメラ

詳細

SIGMA FE-SEM(フィールドエミッション走査型電子顕微鏡)は、電子検出に使用される一連の高度な顕微鏡です。 SmartSEMに組み込まれている画像ナビゲーションソフトウェアが付属しています。 GEMINIカラムから設計されており、低電圧イメージング安定性を実現しています。 そのチャンバーにデュアルEDS検出器を取り付けると、機能が向上します。

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BIEMH 2024
BIEMH 2024

3-07 6月 2024 Bilbao (スペイン) ホール 6 - ブース C-10

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