Q-Labの計量研究所用テストチャンバー

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加速テストチャンバー
加速テストチャンバー
QUV Series

温度: 28 °C - 80 °C
外幅: 137 cm
外高: 135 cm

... が屋外の日光、熱、水にさらされたときの耐久性をテストします。 屋外に露出した耐久性のある材料の光劣化は、ほとんどすべて紫外線が原因です。QUVテスターの蛍光灯は、太陽光スペクトルの重要な短波紫外線領域をシミュレートし、 日光による物理的財産の損害損傷の種類には、色の変化、光沢の低下、白亜化、ひび割れ、ひび割れ、曇り、ふくれ、脆化、強度の低下、酸化などがあります。 屋外暴露で発生する湿気のほとんどは、雨ではなく露が原因です。QUV ...

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Q-LAB
キセノンアークランプ付きテストチャンバー
キセノンアークランプ付きテストチャンバー
Q-SUN Xe-1 Series

温度: 10 °C - 100 °C
外幅: 78, 99 cm
外高: 52, 138, 72 cm

... Q-SUN Xe-1 テスターは、市販されているキセノンアーク試験チャンバーの中で最もシンプルで信頼性が高く、使いやすい試験チャンバーです。 リアルで多用途 Q-SUN Xe-1テスターのキセノンアークランプは、 日光ほぼ水平の試験片取り付けとオプションの水スプレーにより、コンパクトなキセノンアーク試験装置で最もリアルな水分シミュレーションが実現します。オプションのチラーは低温アプリケーションに使用できます。 簡単な操作 Q-SUN ...

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Q-LAB
温度調整チャンバー
温度調整チャンバー
Q-SUN Xe-2 Series

温度: 25 °C - 105 °C
外幅: 91 cm
外高: 166 cm

... キセノンアーク テスチャンバーは、全スペクトルの太陽光、熱、雨によって引き起こされる損傷を再現します。数日または数週間で、屋外で数か月または数年かけて発生する損傷を再現できます。 Q-SUN Xe-2 試験装置は、耐候性、耐光性、光安定性のフル機能試験装置です。光スペクトル、放射照度、相対湿度、チャンバー温度、ブラック ...

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Q-LAB
温度調整チャンバー
温度調整チャンバー
Q-SUN Xe-3 series

温度: 15 °C - 120 °C
外幅: 91, 78 cm
外高: 94, 178 cm

... (酸または石鹸用)、およびチラー機能を備えています。 Xe-3 テスターのスライド式試料トレイは、大型の 3 次元部品やコンポーネントを露出させるのに便利です。多用途の Q-SUN Xe-XNUMX テスターは、市販されているキセノンアーク テスターの中で最もシンプルで信頼性が高く、使いやすいテスターです。 リアルで多用途 Q-SUN ...

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結露用テストチャンバー
結露用テストチャンバー
QCT

温度: 27 °C - 72 °C
内幅 : 120 cm
内長: 25 cm

... または数年にわたって発生する湿気による損傷を再現できます。 QCT テスターは高速で使いやすく、手頃な価格です。100% の結露湿度を使用して、雨や露による金属、塗料、有機材料へのダメージをシミュレートし、加速します。この劣化は、湿度温度の上昇により、自然暴露に比べて加速されます。QCT テスターは、水浸漬テストや通常の (結露しない) 湿度テストに代わるものです。 QCT ...

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Q-LAB
循環浸食テストチャンバー
循環浸食テストチャンバー
Q-FOG CRH series

ボリューム: 1,100, 600 l
温度: 20 °C - 70 °C
内幅 : 147, 144, 110, 108 cm

... 腐食試験の必須言語を満たしています。CRH テスターは、競合チャンバーで頻繁に見られる詰まりを防ぐスプレーノズルの高度なクリーニング機能を備えています。 Q-FOG パンフレット 詳細については、 1つのQ-FOG CRHチャンバー内で、一連の最も重要な腐食環境を循環させることができます。非常に複雑なテストサイクルでも、Q-FOGコントローラーで簡単にプログラムできます。 ...

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Q-LAB
循環浸食テストチャンバー
循環浸食テストチャンバー
Q-FOG series

ボリューム: 1,100, 600 l
温度: 20 °C - 70 °C
内幅 : 110, 108, 147, 144 cm

... 塩水噴霧試験およびプロヘッション試験、チャンバー容積約600リットル • Q-FOG SSP-1100: 従来の塩水噴霧試験およびプロヘッション試験、チャンバー容積約1100リットル • Q-FOG CCT-600: 従来の塩水噴霧、プロヘージョン、湿度100%、チャンバー容積約600リットル • ...

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