Thermo Fisherの走査型電子顕微鏡

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 µm - 10 µm

... より迅速で効率的な品質管理と故障解析の舞台を提供します。 大型ステージは最大100 mm x 100 mmの試料に対応し、ルーチン分析タスクの自動化により、平均画像化時間わずか60秒で正確で再現性の高い結果を提供します。 広々としたチャンバーでは、 電動ユーセントリックサンプルチルト、in situ引張試験、電気フィードスルーオプションなどの高度な機能を使用できます。アルゴン対応モデルは、デリケートなサンプルを保護する不活性環境を提供します。 長寿命のCeB₆（六ホウ化セリウム）光源は、卓越した明 ...

倍率 : 160 unit - 350,000 unit
分解能: 8, 6 nm

... 信頼性の高い一貫した結果をデスクトップに自動配信 Thermo Scientific Phenom Pure、Pro、ProX G6デスクトップSEMは、作業のほとんどを自動化する経済的で使いやすいソリューションです。各機種は生産性を考慮して設計されており、高輝度六ホウ化セリウム（CeB6）光源を搭載し、優れた画質と長期にわたる信頼性を実現しています。 これらのSEMは、信頼性が高く、安定した結果を迅速に得ることができます。初心者の方でも、数分で高解像度の画像を得ることができます。 Phenom ...

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm
重量: 75 kg

... SEMより速いスループット Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEMは、卓越した速度と精度を提供します。従来の 走査型 電子 顕微鏡の最大10倍のスループットを実現し、短時間で分析を完了できます。また、統合された自動化機能により、使いやすさがさらに向上し、 顕微鏡の使用時間を大幅に短縮し、全体的な生産性を高めます。日常的な検査から詳細な調査まで、Phenom ...

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 10 nm

... レポートを、あなたとあなたのチームにお届けします。 Phenom ParticleX AMデスクトップSEMには、高度な組成分析のためのエネルギー分散型X線分光法（EDS）が統合されています。また、二次 電子検出器（SED）を追加することもできます。二次 電子検出器は、サンプルの最表面層から低エネルギー 電子を収集し、詳細な表面情報を提供します。 概要 工業用品質規格に安心して適合 Phenom ...

分解能: 0.7, 1, 0.6 nm

... 走査型 電子 顕微鏡によるナノ材料のサブナノメートルの分解能と高い材料コントラストによる特性評価。 Verios 5 XHR 走査型 電子 顕微鏡 Verios 5 XHRは、1 keVから30 keVの全エネルギー範囲においてサブナノメートルの分解能と優れた材料コントラストを有するSEMです。自動化と使いやすさの追求により、あらゆるレベルのユーザーがこの性能を利用できるようになりました。 走査型 電子 顕微鏡による特性評価 - ...

倍率 : 6 unit - 2,500,000 unit
分解能: 1, 1.3, 3, 0.8 nm
幅: 340 mm

... 科学的発見を加速させるには、強力なデータ分析が必要だ。しかし、それには汎用性も必要だ。 Thermo Scientific Quattro ESEMは、Thermo Scientific SEMの中で最も幅広いサンプルの分析に対応し、アウトガスや非真空対応サンプルをサポートする3つの真空モードを備えています。また、環境SEM独自のフィールドエミッションガン（FEG）により、高分解能の結果を得ることができます。 この技術は、どのような試料にも対応できるように設計されています。Quattro ESEMは、複数の検出器、その場実験用の加熱・冷却ステージ、Thermo ...

分解能: 0.9, 0.8, 1, 1.2 nm
重量: 5 kg
幅: 340 mm

... で高性能な材料のイメージングと分析を可能にする 走査型 電子 顕微鏡。 最先端の材料特性評価ラボでは、最新の技術を利用する必要があり、SEMを含む分析ツールをその能力の極限にまで高めることになります。これらのラボのほとんどは、さまざまな経験を持つユーザーに対応するマルチユーザー施設です。 顕微鏡を使用する時間は貴重であり、メンテナンス、アライメント、トレーニング、画像の最適化などに過剰な時間を費やすことは避ける必要があります。 Apreo ...

分解能: 1,030, 515 nm

... 典型的なアーチファクトがほとんど発生しません。ほとんどの場合、レーザー加工された表面は、直接SEMイメージングや、 電子後方散乱回折（EBSD）マッピングのような表面感度の高い技術でも十分に清浄です。 透過型 電子 顕微鏡(TEM)試料作製、アトムプローブトモグラフィー(APT)試料作製、3次元構造解析などの用途向けに、幅広い製品ポートフォリオと高度な自動化機能を提供しています。 透過型 電子 顕微鏡およびアトムプローブトモグラフィー試料前処理 実績のあるHelios ...