ZEISSの自動顕微鏡
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... 、ワークフローを効率化。内蔵コンピュータにより、すべての機能とソフトウェアアプリを 顕微鏡上で直接実行可能。コンパクトなオールインワン設計で、限られたスペースにも設置可能。25倍ズームと370mmの焦点深度を備えたフレキシブルで大きな視野(FOV)により、幅広いサイズの部品を検査可能:医療機器:PCBおよびSMDの検査と故障チェック:航空宇宙:インプラント、注射器、整形外科部品、その他の部品の検査と故障チェック: 自動車:コンプレッサーのブレードや機械部品の検査:ギヤ、シール、機械部品の検査:錠剤、カプセル ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... ZEISS Axio Observerを使用することで、材料、特に金属組織試料の観察、開発、分析、検査の時間を節約できます。高い信頼性と再現性をはじめ、高品質なZEISS光学系に 自動化されたユニットを組み合わせた倒立 顕微鏡であるAxio Observerのメリットをご活用ください。また、専用ソフトウェアを利用することで、非金属介在物(NMI)や粒径を解析できます。Axio Observerはオープンプラットフォームのため、すぐに必要な機能だけをご利用いただけます。 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... をシームレスに行うためのツールが搭載されています。 他の機器と併用しやすいEVO EVOは、半 自動マルチモーダルワークフローの一部として構成可能であり、関心領域の位置再特定や、複数のモダリティから収集したデータの統合をシームレスに行うためのツールが搭載されています。光学 顕微鏡と電子 顕微鏡のデータを組み合わせて、材料の特性評価や部品検査を行うことができます。あるいは、EVOをZEISS光学 顕微鏡と併用することで相関粒子解析も可能です。 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... ZEISS Sigmaファミリーは、電界放出型走査電子 顕微鏡(FE-SEM)のテクノロジーと優れたユーザーエクスペリエンスを兼ね備えています。イメージングと解析ルーチンを構造化することで生産性が向上し、新しい材料、品質検査用の粒子試料、生物・地質試料などの観察に活用できます。妥協のない高分解能イメージングにより、1 kV以下の低加速電圧でも高い解像度とコントラストを達成します。さらに、クラス最高のEDSジオメトリを使用して高度な 顕微鏡解析を実行し、より正確な解析データを2倍の速さで取得することができます ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
倍率 : 1 unit - 100 unit
重量: 40, 18 kg
長さ: 721 mm
... 先端材料研究における光学 顕微鏡のワークフローに使いやすさが加わりました。材料研究向けのZEISS Axio Imager 2により、正確で再現性のある結果が得られます。アプリケーションに合ったシステムをお選びください。粒子解析や共焦点 顕微鏡、相関 顕微鏡向けの専用ソリューションを利用すれば、装置をさらに拡張できます。 再現性のある結果 モジュラー設計 優れた光学性能 再現性のある結果 無振動の作業環境 優れた結果を得るには、システムの安定性が欠かせません。Axio ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
重量: 32, 14, 20 kg
長さ: 240, 458.5 mm
幅: 293.5, 429 mm
... フル電動化により 自動イメージング 優れた機能を手頃な価格で Axioscopeは卓越したユーザビリティと高度な 自動化機能を備えた要求の高いルーチン業務に理想的な 顕微鏡です。価格は魅力的ながらも高度な研究用光学 顕微鏡の優れた機能も兼ね備えています。 信頼できる結果 コード化されたコンポーネントと高度なライトマネージメントを備えたAxioscopeは信頼性と再現性の高い結果を約束します。さらに、電動化されたAxioscope ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle