O 4033 e o 4034 são geradores de impulsos programáveis de elevado desempenho para testar sistemas e circuitos digitais baseados nas tecnologias TTL, CMOS ou ECL. Estes instrumentos geram impulsos limpos e precisos com uma resolução até 6 dígitos, com uma taxa de repetição até 50 MHz, larguras de impulsos variáveis de 10 ns a 10 s e atrasos de impulsos de 0 ns a 10 s. Os níveis de saída são ajustáveis de -10 V a +10 V, com amplitudes de impulsos configuráveis de 0,1 Vpp a 10 Vpp numa carga de 50 ohm. Todos os parâmetros, modos e funções são programáveis através do painel frontal ou de comandos de controlo remoto. Além disso, os geradores de impulsos permitem a geração seleccionável de impulsos complementares e de impulsos duplos nos modos contínuo, desencadeado, com portas e de rajada contada.
Taxa de repetição de 0,1 Hz a 50 MHz
Funcionamento de canal duplo (apenas 4034): Ambos os canais oferecem funcionalidade total e todos os parâmetros, como a largura do impulso e o tempo de transição, podem ser definidos de forma independente. Os canais podem ser sincronizados com o premir de um botão
Modos de accionamento flexíveis: Contínuo, disparado (interno, externo, manual), Gated Burst e Largura externa
Largura de impulso programável de 10 ns a 10 s
Tempos de transição (tempos de subida e descida) variáveis de 6 ns a 100 ms
Atraso programável e duplo impulso
Armazena até 99 configurações de teste diferentes com retenção automática da última configuração de desligamento
10 Vpp numa saída de 50 ohm
Calibração em caixa fechada
Programável via GPIB e RS-232
Compatível com SCPI
Aplicações
Equipamento de teste automático (ATE)
Teste de aviónica e radar
Teste de fontes de alimentação comutadas
Caracterização de componentes activos
---