Difratômetro de raios X D8 ADVANCE Plus
para produtos em pó

Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 2
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 3
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 4
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 5
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 6
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 7
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 8
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 9
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 10
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 11
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 12
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 13
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 14
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 15
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 16
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 17
Difratômetro de raios X - D8 ADVANCE Plus - Bruker AXS - para produtos em pó - imagem - 18
Guardar nos favoritos
Comparar

Características

Tipo
de raios X
Aplicações
para produtos em pó

Descrição

O D8 ADVANCE Plus combina a máxima flexibilidade com uma facilidade de utilização inigualável, combinando perfeitamente com as necessidades analíticas de película fina epitaxial e policristalina, amostras a granel e em pó em condições ambientais e não ambientais. Graças à óptica TRIO, a comutação entre diferentes geometrias de instrumentos é feita com o premir de um botão, de forma fiável e sem a intervenção do utilizador. Difração de pó sem igual com geometria Bragg-Brentano Excelente resolução em alta intensidade em amostras epitaxiais Difração ideal de película fina policristalina na Geometria de Incidência de Pastoreio XRR para determinar a espessura do filme de 0,1 nm até 250 nm

---

VÍDEO

Catálogos

Não estão disponíveis catálogos para este produto.

Ver todos os catálogos da Bruker AXS

Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

ELECTRONICA 2026
ELECTRONICA 2026

10-13 nov 2026 Munich (Alemanha) Hall C1 - Stand 115

  • Mais informações
    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.