Microscópio de força atômica Dimension Icon®

de mediçãoindustrialpara análise de materiais

O Dimension Icon® da Bruker traz os mais altos níveis de desempenho, funcionalidade e acessibilidade AFM aos pesquisadores da nanoescala na ciência e na indústria. Construído sobre a plataforma AFM de grande amostra mais utilizada do mundo, é o culminar de décadas de inovação tecnológica, feedback do cliente e flexibilidade de aplicações líder da indústria. O sistema foi projetado de cima para baixo para oferecer o revolucionário baixo desvio e baixo ruído que permite aos usuários obter imagens sem artefatos em minutos, ao invés de horas. Mais alto desempenho scanner de pontas Fornece uma resolução inigualável de grandes amostras com níveis de ruído em malha aberta, piso com ruído reduzido e taxas de deriva <200 pm. Fácil produtividade Proporciona uma configuração surpreendentemente simples, um fluxo de trabalho intuitivo e um tempo rápido de resultados para a publicação de dados de qualidade a cada vez. Versátil plataforma de acesso livre Acomoda a mais ampla variedade de experiências, modos, técnicas e medições semi-automatizadas. Mais Alto Desempenho e Resolução A resolução superior do Dimension Icon, em conjunto com os algoritmos de varredura eletrônica proprietários da Bruker, proporcionam ao usuário uma melhoria significativa na velocidade e qualidade de medição. O Ícone é a culminação da tecnologia AFM de varredura de ponta líder de mercado da Bruker, incorporando sensores de posição que compensam a temperatura para renderizar os níveis de ruído na faixa sub-angstrom para o eixo Z, e angstroms em XY. Este é um desempenho extraordinário em um sistema de alcance de varredura de 90 mícrons de amostra grande, superando os níveis de ruído de AFMs de alta resolução em malha aberta.