ZEISS Xradia 610 e 620 Versa
Microscopia 3D de Raios X para Imagens Sub-Micrônicas mais Rápidas de Amostras Intactas
Vá além da exploração para alcançar os seus momentos de descoberta.
Liberte novos graus de versatilidade para a sua investigação científica e industrial com os mais avançados modelos de microscópio 3D de raios X da família ZEISS Xradia Versa.
Com base na melhor resolução e contraste da indústria, o ZEISS Xradia 610 & 620 Versa expande os limites de sua imagem não destrutiva em escala de submícron.
Destaques
Estendendo os Limites das Soluções de Micro e Nano-CT
Microscopia não destrutiva de amostras intactas em escala sub-micron
Maior fluxo e varreduras mais rápidas sem comprometer a resolução
Resolução espacial verdadeira de 500 nm com um tamanho mínimo de voxel alcançável de 40 nm
Alta resolução em uma ampla gama de tipos de amostra, tamanhos e distâncias de trabalho
Imagens in situ para caracterização não destrutiva de microestruturas em ambientes controlados e ao longo do tempo
Actualizável e extensível com futuras inovações e desenvolvimentos
Rendimento com qualidade de imagem
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