Aparelho de inspeção de semicondutores

A inspeção de dispositivos semicondutores é uma etapa crucial no processo de produção microeletrónica. Envolve uma inspeção altamente precisa para detetar defeitos em várias fases da produção, o registo e a apresentação dos resultados, bem como a geração de informações relacionadas com o controlo de qualidade que possam ser acedidas e utilizadas imediatamente, com vista a melhorar o rendimento global. A CIMS oferece soluções de inspeção automatizada para wafers padronizados, bem como para vários produtos de fan-out e fan-in, tanto para WLP (embalagem ao nível do wafer) como para PLP (embalagem ao nível do painel). Os sistemas AOI da CIMS para microeletrónica estão a ajudar os nossos clientes a aumentar drasticamente o rendimento dos seus processos de fabrico, bem como a melhorar a qualidade do produto final.