- Metrologia - Laboratório
- Componente Óptico
- Espelho redondo
- Dayoptics, Inc.
Espelho redondo MIR-UV seriesem sílica fundida
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Características
- Forma
- redondo
- Material
- em sílica fundida
Descrição
Material UVFS
Tolerância de dimensão +0,0/-0,127
Comprimento de onda 255~370nm
Reflectividade 99,5%
Paralelismo <1 minuto de arco
Qualidade da superfície 20-10 riscar/escavar
Central de Abertura Clara 90%
Planeza λ/8@633nm
LIDT 20~40J/cm² @1064 nm, 20ns,20 Hz
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