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Medidor de espessura estacionário 3 nm - 100 µm | F30 seriespor refletância espectralde bancada
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Características
- Tipo
- estacionário
- Tecnologia
- por refletância espectral
- Outras características
- de bancada
Descrição
Meça taxas de depósito, espessura de película, constantes óticas (n e k), e uniformidade dos semicondutores e das camadas do dielétrico no tempo real com o sistema da reflectância F30 espectral.
Camadas do exemplo
MBE e MOCVD: As películas lisas e translúcidas, ou levemente absorventes, podem ser medidas. Isto inclui virtualmente todo o material semiconducting, de AIGaN a GaInAsP.
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.