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Analisador de bancada
a laser

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Características

Configuração
de bancada
Outras características
a laser

Descrição

Este sistema foi projetado medindo o NFP do semicondutor do laser. Ajuda em analisar o diâmetro do raio laser, de sua capacidade elíptica e igualmente da posição de seu feixe. Este é o dispositivo que pode ser usado para a expansão ótica com uma ampliação mais alta. Usá-lo com uma câmera do CCD pode trazer mais foco à área da emissão do laser do semicondutor, assim trazendo a precisão. O perfil XY - a exposição de dados pode mostrar os resultados analíticos e da medida. Este sistema tem uma exposição dimensional do equiluminance 2. Há igualmente uma opção de 3D e de exposição do parâmetro do feixe.

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Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.