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Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo SU5000
para análises3Din situ

microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
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microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
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Características

Tipo
eletrônico de varredura por emissão de campo
Aplicações técnicas
para análises
Técnica de observação
BF-STEM, 3D, DF-STEM, in situ
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo Schottky
Tipo de detector
de elétrons secundários, de elétrons retroespalhados
Opções e acessórios
assistido por computador
Outras características
para nanotecnologia, de alta resolução, automático, de varredura com pressão variável, para amostras planas, para amostras polidas, para topografia, para identificação de amianto, para aquisição simultânea, para as ciências da terra, de grande ampliação
Resolução espacial

1,2 nm

Descrição

O FE-SEM analítico inovador permite uma transição simples entre o modo de alto vácuo e o modo de pressão variável. O EM Wizard é um sistema baseado no conhecimento para imagens SEM que vai para além das condições e receitas básicas predefinidas. A sua facilidade de utilização abre uma nova porta de entrada para a investigação de materiais, desenvolvimento e áreas para além da nossa imaginação. O SU5000 FE-SEM mudou para sempre as operações de SEM. A inovadora tecnologia assistida por computador da Hitachi, referida como EM Wizard, oferece um novo nível de operação e controlo do MEV. Especialista ou principiante, o resultado é agora o mesmo: Imagens à escala nanométrica da mais alta qualidade ao alcance de todos! - Uma nova e revolucionária interface de utilizador, o EM Wizard, proporciona a todos os utilizadores níveis óptimos de resolução, repetibilidade e produtividade. Com o EM Wizard, os principiantes tornam-se peritos de um dia para o outro. - A tecnologia de ajuste automático do eixo (auto-calibração) restaura o microscópio para a sua "melhor condição" quando solicitado. - Uma robusta câmara de amostras "draw-out" acomoda amostras grandes (-200 mmφ, -80 mmH). - Troca rápida de amostras com evacuação para observação em 3 minutos ou menos. - Otimização de imagem automatizada e intuitiva a pedido, em tempo real. - Um guia visual e interativo oferece modos SEM de "escolha" para garantir as melhores condições de funcionamento. - Com a ferramenta 3D MultiFinder, as amostras são facilmente inclinadas e rodadas com a imagem a permanecer centrada e focada. A informação de múltiplos ângulos de um Detetor de Electrões de Retrodispersão (BSD) anular recentemente desenvolvido adquire simultaneamente informação topográfica e de composição.

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Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 abr 2024 Stuttgart (Alemanha) Stand 7103

  • Mais informações
    The Advanced Materials Show

    15-16 mai 2024 Birmingham (Reino Unido)

  • Mais informações

    Outros produtos Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.