Sistema de monitoramento de temperatura E-LIT

de mediçãocom câmera de infravermelhode alto desempenho

Solução de Teste Eletrônico / Semicondutor - E-LIT * Análise térmica de dispositivos eletrônicos e semicondutores * Bancada de teste modular para medição de travamento on-line * Detecção fiável de anomalias térmicas na gama mK e μK * Localização espacial de defeitos em placas de circuito impresso multicamadas e módulos de múltiplos chips * Utilização de sistemas termográficos com detectores refrigerados e não refrigerados * Software operacional IRBIS® 3 ativo com opções de análise abrangentes em condições laboratoriais E-LIT - O sistema de solução de teste automatizado permite a inspeção de falhas sem contato do material semicondutor durante o processo de fabricação. Distribuição de temperatura não homogênea, a perda de energia local pode ser medida com Termografia de travamento. Isto é conseguido através da utilização dos tempos de medição mais curtos combinados com uma câmara termográfica de alto desempenho e um procedimento de bloqueio especializado. A fonte de alimentação para este processo é cronometrada com um módulo de sincronização e as falhas que produzem mK ou mesmo μK diferenças são detectadas de forma confiável. Pequenos defeitos como manobras de ponto e linha, falhas de óxido, falhas de transistor e diodo em uma superfície PCB e em IC´s podem ser detectados e exibidos em posições x e y. Além disso, é possível analisar pacotes empilhados ou módulos multi-chip na direção z com a simples mudança da frequência de travamento. Benefícios da Bancada de Teste Modular - Medição de bloqueio online com a mais alta sensibilidade - Análise microscópica completa e detalhada - Resolução geométrica até 1,3 μm por pixel com lentes de microscópio - Resolução térmica na gama microkelvin - Análise multicamadas - Digitalização automática de amostras maiores devido à mecânica de precisão