Microssonda eletrônica (EPMA) JXA-8530FPlus

A JEOL comercializou o primeiro FE-EPMA do mundo, o JXA-8500F, em 2003. Este conceituado FE-EPMA tem sido utilizado há muito tempo em vários campos, tais como: metais, materiais e geologia, tanto na indústria como no meio académico. O JXA-8530FPlus é um FE-EPMA de terceira geração que vem com capacidades analíticas e de imagem melhoradas. O canhão de electrões de emissão de campo In-Lens Schottky, combinado com o novo software, proporciona um maior rendimento, mantendo uma elevada estabilidade, permitindo assim obter uma gama mais vasta de aplicações EPMA com uma resolução mais elevada. In-Lens Schottky Plus FEG versão EPMA A versão In-Lens Schottky Plus FEG EPMA, com uma densidade de corrente angular optimizada, permite a análise com uma grande corrente de sonda de 2μA ou mais. A resolução da imagem de electrões secundários foi melhorada, mesmo em condições analíticas, através do ajuste automático do ângulo de convergência correcto. Software avançado Está disponível uma grande variedade de sistemas de aplicações avançadas baseadas em Microsoft Windows®, incluindo: Programa de análise de elementos vestigiais para uma análise mais simples e optimizada de elementos vestigiais, incluindo a adição de dados recolhidos de até 5 espectrómetros, Phase Map Maker para a criação automática de mapas de fase baseados em componentes principais, Programa de análise de superfícies não planas para análise WDS automatizada de amostras com irregularidades na superfície. Isto é possível devido ao grande curso Z da plataforma (7,5 mm). Avisos:Windows é uma marca registada da Microsoft Corporation nos Estados Unidos e noutros países.