Os sensores de medição por interferência 3D da Série WI-5000 captam uma imagem 3D de áreas-alvo de até 10 x 10 mm (0,39″ × 0,39″) em apenas 0,13 segundos. O sensor regista simultaneamente 80 000 pontos de dados de altura ao longo da superfície para realizar medições de alta precisão de altura, coplanaridade e até rugosidade da superfície (Sa e Sz). Ao utilizar interferometria de luz branca para capturar imagens, o sensor pode recorrer à medição coaxial da superfície, eliminando zonas mortas que impedem a medição precisa em ranhuras e outras formas com variações bruscas de altura. O princípio de medição permite medições 3D precisas e repetíveis em praticamente qualquer tipo de superfície, incluindo alvos transparentes ou espelhados. Embora a sua velocidade o torne ideal para medições em linha, está também disponível um suporte ajustável, permitindo aos utilizadores tirar partido das mesmas medições rápidas e automáticas tanto para inspeções em linha como fora de linha.
Medições de rugosidade sem contacto realizadas em linha
Apresentamos o sensor de medição por interferência 3D da série WI-5000 para medição instantânea da altura da superfície. Realize medições em linha tanto da rugosidade linear como da rugosidade superficial.
• Rugosidade superficial (Sa/Sz)
• Rugosidade linear (Ra/Rz)
Medição de área, não medição de ponto ou linha
Meça instantaneamente 80 000 pontos numa área máxima de medição de 10 × 10 mm (0,39" × 0,39"). Utilizando os princípios da interferometria de luz branca, a Série WI-5000 não é afetada pelo tipo de material, cor ou pontos cegos, permitindo medições de alta precisão ao nível do mícron.
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