Profilômetro a laser VK-X4000

óptico3Dconfocal

Visão geral
A série VK-X4000 é um microscópio de perfilagem óptica 3D que integra confocal a laser, interferometria de luz branca (WLI) e focus variation numa única plataforma metrológica para medições não contactantes e de alta precisão de superfícies e topografias. O sistema suporta rotinas multi-ponto automatizadas e deteção de múltiplas características para aumentar o rendimento reduzindo a configuração manual.

Principais características

• Três princípios de medição num único instrumento: Confocal a laser, WLI e Focus Variation para ampla cobertura de materiais e geometrias.
• Medição multiponto automatizada: definir coordenadas e ampliações alvo para medições em lote sem supervisão.
• Medição automática de múltiplas características: identificar características alvo e aplicar condições de medição automaticamente para resultados consistentes.
• AI-Analyzer: avalia dezenas de parâmetros de superfície para realçar as métricas que melhor diferenciam amostras, agilizando a análise.
• Alta versatilidade: adequado para metais, filmes, plásticos, semicondutores, componentes médicos e outros materiais.

Princípios de medição e pontos fortes

• Confocal a laser: eficaz para formas complexas e materiais variados, fornecendo dados 3D localizados em geometrias desafiantes.
• Interferometria de luz branca (WLI): proporciona resolução vertical subnanométrica para detalhes de superfície muito finos e medições de espessura precisas.
• Focus Variation: capta texturas finas em áreas maiores e complementa outros métodos quando transparência ou inclinação limitam o desempenho.

Medição multiponto / Automação

• Configure vários pontos de medição selecionando alvos; o sistema gere automaticamente posicionamento e seleção de objetivas.
• Execute medições em lote através de várias amostras e áreas sem configurações manuais repetidas, reduzindo o tempo de ciclo e a variabilidade do operador.

AI-Analyzer / Análise de rugosidade
O AI-Analyzer compara inúmeros parâmetros de superfície (por ex., Ra, Rz e métricas ISO padrão) para identificar quais parâmetros distinguem melhor as amostras, simplificando a seleção de métricas de rugosidade e acelerando a interpretação dos resultados.

Aplicações e benefícios

• Perfilagem 3D de superfícies e análise de rugosidade para eletrónica, fabrico de precisão, filmes e revestimentos, dispositivos médicos, plásticos e mais.
• Permite inspeção de alto rendimento com rotinas automatizadas e reproduzíveis para controlo de qualidade e estudos comparativos.
• Combina métodos de medição complementares para abordar praticamente qualquer superfície, desde filmes lisos a geometrias rugosas e complexas.

Especificações técnicas

• Denominação comercial: VK-X4000 series
• Princípios de medição: Confocal a laser, Interferometria de luz branca (WLI), Focus Variation
• Resolução vertical WLI: subnanométrica (para detalhes de superfície muito finos)
• Medição multiponto: seleção automatizada de coordenadas e medição em lote através de amostras
• AI-Analyzer: comparação automatizada de múltiplos parâmetros de superfície para detetar diferenças chave
• Medição automática de múltiplas características: aplicação automática das condições de medição às características identificadas
• Materiais adequados: metais, filmes, plásticos, componentes semicondutores, peças médicas, etc.
• Principais casos de uso: perfilagem 3D de superfícies, análise de rugosidade, avaliação de espessura de filme, análise comparativa de superfícies, inspeção automatizada de alto rendimento