Sistema de preparação de amostras automático EM TXP

para SEM

O Leica EM TXP é um dispositivo de preparação do alvo para pulverizar, serrar, moer e polir amostras antes do exame pelas técnicas de SEM, TEM e LM. Um estereomicroscópio integrado possibilita a identificação precisa e a fácil preparação de alvos pouco visíveis. Com o braço de articulação do espécime, a amostra pode ser observada diretamente em um ângulo entre 0° e 60, ou de 90° até a face frontal para determinar a distância com uma mira ocular.