Sistema de preparação de amostras automático EM TXPpara SEM
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Características
- Modo de funcionamento
- automático
- Aplicações
- para SEM
Descrição
O Leica EM TXP é um dispositivo de preparação do alvo para pulverizar, serrar, moer e polir amostras antes do exame pelas técnicas de SEM, TEM e LM.
Um estereomicroscópio integrado possibilita a identificação precisa e a fácil preparação de alvos pouco visíveis. Com o braço de articulação do espécime, a amostra pode ser observada diretamente em um ângulo entre 0° e 60, ou de 90° até a face frontal para determinar a distância com uma mira ocular.
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EM Sample Preparation
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.