Sistema de cristalografia de raios X JF-2

sistema de cristalografia de raios X
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Características

Especificações
de raios X

Descrição

Objectivo: O instrumento de análise de cristais de raios X é utilizado principalmente para reescrevendo a microestrutura interna da substância. Como, por exemplo, single cr direção ystal, examinar as desfigurações, direção da substância, medir o parâmetro da treliça, medir a tensão remanescente, etc.

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.