Interferômetro para medição de deslocamento subnanométrico MarSurf WI 50 M

compacto3D

Medição precisa na gama de sub-nanómetros - simples com o novo MarSurf WI 50 M. Com um software intuitivo e um design muito fácil de utilizar, este instrumento de medição 3D é ideal para o uso diário no laboratório e para a gestão da qualidade. O novo WI 50 M cumpre todos os requisitos das suas tarefas de medição na gama de nanómetros - oferecendo o máximo desempenho e uma relação custo-benefício impressionante. Com uma abordagem minimalista, design compacto e grande espaço de instalação, a ferramenta faz jus à sua reputação como "uma solução de nível básico ideal". Tarefas típicas de medição Medidas de rugosidade de acordo com ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 Medidas topográficas (incluindo volume, desgaste, tribologia) contorno e forma (2D, 3D) poro, análise de partículas detecção de defeitos ... Máxima qualidade dos dados Um dos nossos critérios mais importantes, que equivale a uma excelente precisão, precisão, reprodutibilidade e documentação para garantir a rastreabilidade e auditabilidade. Nosso maior serviço para o cliente é fornecer um valor de medição quantitativo que pode ser implementado de forma confiável nas áreas de engenharia, produto, projeto de processo e controle de qualidade.