Difratômetro XRD Wafer XRD 300

de laboratório

A sua solução integrável de orientação de bolachas O poder da automação da sua fábrica encontra-se com a nossa tecnologia de difração de raios X de última geração. O Wafer XRD 300 é um módulo de metrologia ultrarrápido e de alta precisão para orientação de cristais e controlo da geometria da bolacha. Conheça o Wafer XRD 300: o seu módulo de difração de raios X de alta velocidade para a produção de bolachas de 300 mm, que fornece dados essenciais sobre uma variedade de parâmetros essenciais, como a orientação de cristais e características geométricas como entalhes, planos e muito mais - concebido para se adaptar perfeitamente à sua linha de processo. Características e vantagens Precisão ultra-rápida com a nossa tecnologia de digitalização patenteada O método utilizado requer apenas uma varredura rotacional para reunir todos os dados necessários para determinar completamente a orientação do cristal, o que proporciona alta precisão em um tempo de medição muito baixo - na faixa de alguns segundos. Manuseamento e seleção totalmente automatizados O Wafer XRD 300 foi concebido para maximizar o seu rendimento e produtividade. A integração total na sua automação de manuseamento e classificação torna-o um complemento poderoso e eficiente para o seu processo. Manuseamento e seleção totalmente automatizados Fácil conetividade A poderosa automação do Wafer XRD 300 se encaixa facilmente no seu processo novo ou existente, pois é compatível com as interfaces MES e SECS/GEM. Alta precisão, visão mais profunda Compreenda os seus materiais como nunca antes com as medições chave do Wafer XRD 300, incluindo: Orientação do cristal Posição do entalhe, profundidade e ângulo de abertura Diâmetro Posição e comprimento do plano Outros sensores disponíveis a pedido